偏振态测量仪-上海昊量光电设备有限公司

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激光测量设备

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深紫外斯托克斯偏振态测量仪
深紫外斯托克斯偏振态测量仪：在紫外波长（180nm-200nm）范围内基于双PEM（光弹调制器）的偏振测量系统为量化光的斯托克斯参数提供精度与灵敏度。该科研级高精度stokes测量系统可实现每秒超100组标准化斯托克斯参数集获取。一次测量生成4个斯托克斯参数。该系统在光学元件表征、光学系统光束输出表征、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等方面具有广泛的应用。

型号：厂商性质：代理商
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光纤偏振态测量仪
光纤偏振态测量仪：SK010PA是一款通用型偏振分析仪，该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态（SOP），并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑，即插即用，可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量，软件操作简单、功能强大。

型号：厂商性质：代理商
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光频梳偏频测量模块（f-2f自参考）
昊量光电新推出光频梳偏频测量模块（f-2f自参考），为测量载波包络偏移频率(fceo)的f-2f自参考锁定过程提供了一种紧凑且方便的解决方案。

型号：厂商性质：代理商
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MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度测量仪
原位薄膜厚度测量仪-MPROBE 50 INSITU-昊量用于测量薄膜厚度和 n&k（光学常数）的实时光学测量仪。该系统可以在高环境光下工作，因为它使用门控数据采集。

型号：MPROBE 50 INSITU 厂商性质：代理商
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MPROBE 40 MSP微小区域薄膜厚度测量仪
微小区域薄膜厚度测量仪-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 测量薄膜厚度和折射率单击鼠标在小地方。显微分光光度计 (MSP) 集成在系统中同时结合显微镜，用于小点薄膜厚度测量。

型号：MPROBE 40 MSP 厂商性质：代理商
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小尺寸宽带偏振态测量仪
PolSNAP是一款紧凑的偏振测量仪，来自Hinds Instruments;公司，数据采集速率为每秒2000个样本，从而得以每秒快速确定4个Stokes矢量。光学系统，驱动电子和检测电子都集成在一起，因此它很容易进入你的光学设置，这样你就可以确定你的光源或光学的偏振，对激光进行质量控制，或确定你的光学的偏振保持能力。小尺寸宽带偏振态测量仪

型号：厂商性质：代理商
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通讯波段偏振消光比测量仪
该消光比测试仪PEM-330采用技术制造，可实现1260～1630nm全波段测量。只需更换测试光源，无需购买多台消光比测试仪，即可实现不同波段器件的精确测量，一机多用大大降低了仪器购置成本。该消光比测试仪具有*的消光比测试精度、偏振角测试精度，能够测量高达50dB的消光比。通讯波段偏振消光比测量仪

型号：厂商性质：代理商
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超宽带偏振态测量仪
超宽带偏振态测量仪结合了Meadowlark Optics公司*的液晶可变相位延迟器技术和偏振技术，具有超宽带、高精度及无运动部件等特点。

型号：厂商性质：代理商
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