干涉仪-上海昊量光电设备有限公司

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激光测量设备

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直接激光干涉图形加工器
直接激光干涉图形加工器可以利用脉冲激光简便地、高速地在大范围区域形成周期性几何形状从而直接烧蚀材料表面。

型号：厂商性质：代理商
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激光剪切散斑干涉系统——NDT无损检测
激光剪切散斑干涉系统——NDT无损检测是所有的光学模组和激光器集成在一个手持式，耐用和轻便的机壳中，接通电源，通过USB连接到电脑，就可以开始检测了。

型号：厂商性质：代理商
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光纤法布里-珀luo干涉仪
光纤法布里-珀luo干涉仪系列产品基于具有平滑、均匀间隔传输峰的固定干涉仪设计。FFP 的设计简洁优雅的关键在于其无透镜全光纤结构。没有准直光学器件或透镜，消除了其他法布里-珀罗元件技术的缺陷，包括未对准、环境敏感性和外来模式。FFP 波器遵循 Airy 函数。工程师可以将其设计到 OEM 系统中，因为他们知道它将提供非常接近理论数学模型的结果。

型号：厂商性质：代理商
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皮米级绝对距离测量干涉仪
皮米级绝对距离测量干涉仪通过将可调激光器的频率锁定到F-P干涉仪的的谐振频率上，将干涉仪的位移测量转换为频率变化的测量。当F-P腔长在变化时，其谐振峰的频率也在发生变化，通过测量初始腔长，初始频率和频率变化，就可实现测量腔长。

型号：厂商性质：代理商
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多波长动态干涉仪
Kaleo MultiWAVE多波长动态干涉仪同时可提供媲美Fizeau干涉仪测量精度，及动态干涉仪的抗震性能。

型号：厂商性质：代理商
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太赫兹扫描干涉仪
太赫兹扫描干涉仪主要用于测量窄带太赫兹辐射的波长和强度分布，同时也可用于脉冲和连续窄带太赫兹辐射源。TSFPI由两个半透明平行硅镜组成，其中一个安装在电机驱动的线性致动器上。

型号：厂商性质：代理商
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KALEO多波长激光干涉仪模块
KALEO套件多波长激光干涉仪模块是用于光学计量的模块化系统。它由多种相互兼容的模块组合而成，可让用户搭建一个经济有效，体积紧凑且易于使用的完整光学测试系统。

型号：KALEO 厂商性质：代理商
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点衍射激光干涉仪
点衍射激光干涉仪: 绝对测量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重复精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

型号：厂商性质：代理商
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半导体/薄膜无损检测仪
半导体/薄膜无损检测仪：半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积，。

型号：厂商性质：代理商
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综合电子测量分析仪（十二功能合一）
综合电子测量分析仪（十二功能合一）可让您观察DC到250 MHz之间频域中的输入信号。在100Hz的zui小跨度下，同时查看分辨率低至1 Hz的两个数据通道。频谱分析仪还具有两个集成的波形发生器，能够产生高达250 MHz的正弦波。

型号：厂商性质：代理商
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quDIS皮米精度位移激光干涉仪
昊量光电推出的皮米精度位移干涉测量仪quDIS是对纳米级别的位移波动进行量测的理想仪器，基于其*的测量原理，相对距离的重复精度达到了50皮米。quDIS可同时支持三个测量通道，使其可以适用于任意的多轴测量中。quDIS在原理上同样采用激光干涉法，不过与传统激光干涉仪相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及饱和吸收气室（GC）作为频率校准参考，通过皮米精度位移激光干涉仪

型号：quDIS 厂商性质：代理商
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Xper WLI白光干涉仪
Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。白光干涉仪

型号：Xper WLI 厂商性质：代理商
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